Область исследований: изучение атомарного строения и определение химического состава полупроводниковых и углеродных материалов методами дифракционной, высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, темнопольной растровой просвечивающей электронной микроскопии с применением прибора FEI Titan Themis 200 с корректором сферической аберрации объективной линзы; изучение морфологии поверхности различных полупроводниковых и углеродных структур методом растровой сканирующей электронной микроскопии на растровом электронно-ионном микроскопе FEI Helios Nanolab 650, в том числе при малых ускоряющих напряжениях электронного пучка в режиме UC color; препарирование тонких фольг для электронно-микроскопических исследований с применением механического и ионного утонения и методом In-Situ Lift-Out на электонно-ионном микроскопе FEI Helios Nanolab 650; характеризация материалов и структур методом растровой электронной микроскопии на приборах FEI Helios NanoLab 650 и Philips XL 40; моделирование атомарной структуры полупроводниковых и углеродных материалов методом молекулярной динамики в пакете LAMMPS; моделирование электронно-микроскопических изображений слоевым методом; восстановление волновой функции электрона на выходной поверхности образца на основе дефокусной серии высокоразрешающих электронно-микроскопических изображений Опыт работы в перечисленных областях исследований должен быть не менее 7 лет.