В рамках темы госзадания «Функциональные материалы для микроэлектроники и фотоники» экспериментальное исследование реальной структуры твердых кристаллических материалов электронной техники (широкозонных и ультраширокозонных полупроводников, сапфира и др.) методами получения рентгеновских изображений, в том числе на источниках синхротронного излучения. Разработка новых методов диагностики.

Научное руководство и непосредственное участие в фундаментальных и прикладных научных исследованиях по заявленной тематике: 1. cоставление планов научно-исследовательских работ по заявленной тематике и определение методов и средств их проведения; организация рабочего взаимодействия членов коллектива, контроль за материальным и техническим обеспечением научного коллектива; 2. определение новых направлений исследований в области физики дефектов структуры и методов выявления и визуализации дефектов; 3. определение возможностей для практического применения полученных результатов; 4. организация взаимодействия с различными лабораториями ФТИ, Университета ИТМО и СПб госуниверситета; 5. инициирование подачи проектов (или помощь в их составлении) в качестве руководителя или ответственного исполнителя в рамках конкурсов российских научных фондов; 6. инициирование и написание публикаций по результатам научно-исследовательских работ в российских и зарубежных журналах, индексируемых в базах данных WoS и/или Scopus, РИНЦ; 7. представление докладов на российских и международных конференциях; 8. повышение квалификации научных кадров.