Исследование морфологических, упругих, электрофизических и оптических свойств полупроводниковых материалов и наноструктур

Проведение фундаментальных научных исследований физических явлений в планарных полупроводниковых структурах и структурах пониженной размерности методами сканирующей зондовой микроскопии и численного моделирования, включая: • Исследование топографии эпитаксиальных полупроводниковых структур кремния и А3В5 методом атомно-силовой микроскопии • Разработка методик исследования электрофизических процессов в нитевидных нанокристаллах А3В5 с помощью проводящей атомно-силовой микроскопии и сканирующей микроскопии зонда Кельвина • Исследование влияние химической пассивации поверхности на проводимость нитевидных нанокристаллов А3В5 • Развитие методик по контролируемой деформации нитевидных нанокристаллов, исследование влияния упругих деформаций на их проводимость и оптические свойства • Численное моделирование оптических и электрофизических свойств нитевидных нанокристаллов в пакетах Comsol Multiphysics и Silvaco TCAD • Подготовка статей для публикаций в ведущих мировых и отечественных журналах, а также представление полученных результатов на международных и российских конференциях • Консультирование студентов и аспирантов, выполняющих НИР в лаборатории оптики поверхности